WEKO3
アイテム / Surface Roughness and Temperature Effect on Ion Reflection from Si and Graphite Following Low-energy H+ Beam Injection / ANREP12-13-466
ANREP12-13-466
ファイル | ライセンス |
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ANREP12-13-466.pdf (200.7 kB) sha256 f3fbaa1fb46e1a9771ccd354a0e64088896a1d03307cc4ef3b90d390633ce4f3 |
公開日 | 2014-02-12 | |||||
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ファイル名 | ANREP12-13-466.pdf | |||||
本文URL | https://nifs-repository.repo.nii.ac.jp/record/1068/files/ANREP12-13-466.pdf | |||||
ラベル | ANREP12-13-466.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 200.7 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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